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IEEE C 62.41-1991 低压交流电源电路中电涌电压推荐规程

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 12:15:50  浏览:9422   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Recommendedpracticeonsurgevoltageinlow-voltageacpowercircuits
【原文标准名称】:低压交流电源电路中电涌电压推荐规程
【标准号】:IEEEC62.41-1991
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1991-01-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:脉冲电压;电压保护;电网;电气工程
【英文主题词】:Electricpowernetworks;Electricalengineering;Impulsevoltages;Voltageprotection
【摘要】:SurgeVoltagesinLow-VoltageACPowerCircuits,RecommendedPracticefor/Note:Approved1991-09-06.
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:121P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Determinationofthegeometricdimensionsofsemiconductorwafers-Part1:Thicknessandthicknessvariation
【原文标准名称】:半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化
【标准号】:DIN50441-1-1996
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1996-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量技术;试验;半导体工艺;表面;垫圈;厚度;定义;厚度测量;半导体片;厚度计;半导体;测量;尺寸;材料试验
【英文主题词】:Definition;Definitions;Dimensions;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Semiconductorslices;Semiconductortechnology;Semiconductors;Surfaces;Testing;Thickness;Thicknessmeasurement;Thick
【摘要】:ThemethodcoversdeterminationofthethicknessofcircularorD-shapedsemiconductorwaferswithanysurfacequalitybyusingbothcontactlessandcontactinginstrumentsforthicknessmeasurement.
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语


基本信息
标准名称:鹿茸加工方法和品质评定
中标分类: 医药、卫生、劳动保护 >> 医药 >> 中药材
替代情况:调整为NY 27-1986
发布日期:1900-01-01
实施日期:1987-05-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:6页
适用范围

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前言

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引用标准

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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 中药材