NF C86-010-1986 半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 19:25:24 浏览:8593
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Discretesemiconductordevices.Genericspecification.
【原文标准名称】:半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范
【标准号】:NFC86-010-1986
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1986-10-01
【实施或试行日期】:1986-10-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:热试验;协议;半导体器件;质量保证程序;耐久试验;一般条件;半导体闸流管;环境试验;表(数据);质量保证;电气耐久试验;机械试验;二极管;电子元部件;电气试验;电子设备及元件;质量保证体系
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:73P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范
【标准号】:NFC86-010-1986
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1986-10-01
【实施或试行日期】:1986-10-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:热试验;协议;半导体器件;质量保证程序;耐久试验;一般条件;半导体闸流管;环境试验;表(数据);质量保证;电气耐久试验;机械试验;二极管;电子元部件;电气试验;电子设备及元件;质量保证体系
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:73P;A4
【正文语种】:其他
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